Media type: Book; Thesis Title: Hochfrequenzcharakterisierung von Mikrowellentransistoren aus III-V-Halbleitermaterial bei Temperaturen im Bereich von 20 K bis 300 K Contributor: Meschede, Herbert [Author] imprint: Düsseldorf: VDI-Verl., 1993 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 144 Issue: Als Ms. gedr. Extent: XVI, 180 S.; Ill., graph. Darst Language: German ISBN: 3181444219 RVK notation: ZN 4870 : Feldeffekt-Bauelemente allgemein; Feldeffekt-Transistoren Keywords: Mikrowellenmesstechnik > Tieftemperatur HEMT > Kleinsignalverhalten > Rauscheigenschaft Origination: University thesis: Zugl.: Duisburg, Univ.-Gesamthochsch., Diss. Footnote: Literaturverz. S. 168 - 179
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 1702-144 Item ID: 32891403 Status: Loanable