Media type: E-Book; Thesis Title: AlGaN/GaN HEMTs Reliability: Degradation Modes and Analysis Other titles: AlGaN/GaN HEMTs Zuverlässigkeit: Degradationsmodi und Analyse Contributor: Ivo, Ponky [Verfasser]; Tränkle, Günther [Akademischer Betreuer] imprint: Berlin: Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin, 2012 Extent: Online-Ressource Language: English Identifier: Keywords: AlGaN/GaN HEMTs ; Degradation ; DC-Stufenstresstests ; Robustheit AlGaN/GaN HEMTs ; DC-Step-Stress tests ; Robustness ; Hochschulschrift Origination: University thesis: Berlin, Technische Universtität Berlin, Diss., 2012 Footnote: Access State: Open Access