Media type: E-Book; Thesis Title: Untersuchungen zu Vanadium-basierten ohmschen Kontakten in AlGaN/GaN-MISHFETs Contributor: Schmid, Alexander [Verfasser]; Heitmann, Johannes [Akademischer Betreuer]; Heitmann, Johannes [Gutachter]; Mikolajick, Thomas [Gutachter] Corporation: Technische Universität Bergakademie Freiberg imprint: Freiberg: Technische Universität Bergakademie Freiberg, 2020 Extent: Online-Ressource Language: German Identifier: Keywords: HEMT ; Elektrischer Kontakt ; Halbleiter ; Drain ; Ohm-Kontakt ; Dielektrikum ; Galliumnitrid ; Vanadium ; AlGaN/GaN ; Ohmscher Kontakt ; HFET ; Ohmic contact ; Hochschulschrift Origination: University thesis: Dissertation, Freiberg, TU Bergakademie Freiberg, 2020 Footnote: Access State: Open Access