Uemura, Y.J.;
Kossler, W.J.;
Kempton, J.R.;
Yu, X.H.;
Schone, H.E.;
Opie, D.;
Stronach, C.E.;
Brewer, J.H.;
Kiefl, R.F.;
Kreitzman, S.R.;
Luke, G.M.;
Riseman, T.;
Williams, D.Ll.;
Ansaldo, E.J.;
Endoh, Y.;
Kudo, E.;
Yamada, K.;
Johnston, D.C.;
Alvarez, M.;
Goshorn, D.P.;
Hidaka, Y.;
Oda, M.;
Enomoto, Y.;
Suzuki, M.;