DIN Deutsches Institut für Normung e. V. (30)
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DIN German Institute for Standardization (30)
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DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (30)
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German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE (30)
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IEEE Electron Devices Society (27)
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Institute of Electrical and Electronics Engineers (13)
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IEEE Reliability Society (10)
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JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards (9)
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Hsu, Sheng-Fu (3)
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Ker, Ming-Dou (3)
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Hanbücken, Margrit (2)
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Harman, George G. (2)
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IEEE Reliability Group (2)
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IEEE Reliability/CPMT/ED Singapore Chapter (2)
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JEDEC, Solid State Technology Association Committee on GaAs Reliability and Quality Standards (2)
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Strong, Alvin W. (2)
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Voldman, Steven H. (2)
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Wehrspohn, Ralf B. (2)
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Amersekera, E. A. (1)
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Benkendorff, Berthold (1)
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Böttcher, Matthias (1)
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Campbell, D. S. (1)
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Chen, Andrea (1)
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Codecasa, Lorenzo (1)
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Colloquium on "Sub-Micron VLSI Reliability" (1992 :London, England) (1)
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Dong, Chengyuan (1)
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Electrochemical Society (1)
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Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division (1)
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Electrochemical Society Electronics Division (1)
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Eliseev, Petr Georgievič (1)
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Felgemacher, Christian (1)
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Filipovic, Lado (1)
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GaAs Reliability Workshop (1997 :Anaheim, Calif.) (1)
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GaAs Reliability Workshop (1998 :Atlanta, Ga.) (1)
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GaAs Reliability Workshop (2000 :Seattle, Wash.) (1)
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GaAs Reliability Workshop (2001 :Baltimore, Md.) (1)
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GaAs Reliability Workshop (2003 :San Diego, Calif.) (1)
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Gan, Zhenghao (1)
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Geilenkeuser, Rolf (1)
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Grasser, Tibor (1)
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Hendzel, Kevin S. (1)
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Holmer, Rainer (1)
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IEEE Electron Devices Society Taipei Chapter (1)
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IEEE Group on Electron Devices (1)
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IEEE Xplore (Online service) (1)
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ISO International Organization for Standardization (1)
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ISO Internationale Organisation für Normung (1)
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ISO Organisation Internationale de Normalisation (1)
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ISO/TC 22 Road vehicles (1)
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ISO/TC 22 Straßenfahrzeuge (1)
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ISO/TC 22 Véhicules routiers (1)
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Professional Technical Group on Reliability (1)
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Institution of Electrical Engineers Electronics Division (1)
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Institution of Electrical Engineers Professional Group E3 (Microelectronics and semiconductor devices) (1)
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International Reliability Physics Symposium (16th :1978 :San Diego, Calif.) (1)
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International Reliability Physics Symposium (17th :1979 :San Francisco, Calif.) (1)
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International Reliability Physics Symposium (18th :1980 :Las Vegas, Nev.) (1)
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International Reliability Physics Symposium (42nd :2004 :Phoenix, Ariz.) (1)
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International Reliability Physics Symposium (43rd :2005 :San Jose, Calif.) (1)
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International Reliability Physics Symposium 54. 2016 Pasadena, Calif (1)
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John Wiley & Sons (1)
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Johnston, Allan (1)
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Johnston, Allan John (1)
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Kaminski, Nando (1)
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Kassel University Press GmbH (1)
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Ko, Youngjong (1)
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Lam, Tim Fai (1)
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Liou, Juin J. (1)
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Lo, Randy Hsiao-Yu (1)
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Maiti, C. K. (1)
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Maiti, Chinmay K. (1)
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Maiti, T. K (1)
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Maiti, T. K. (1)
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Mathad, G. S. (1)
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McKerrow, Andrew J. (1)
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Medjdoub, Farid (1)
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Muller, Pierre (1)
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Müller, Pierre (1)
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Pecht, Michael (1)
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Pfitzner, Lothar (1)
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ROCS Workshop (2004 :Monterey, Calif.) (1)
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ROCS Workshop (2005 :Palm Springs, Calif.) (1)
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ROCS Workshop (2008 :Monterey, Calif.) (1)
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ROCS Workshop (2009 :Greensboro, N.C.) (1)
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Radojcic, Riko (1)
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Rao, Gopal K. (1)
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Rathore, Hazara S. (1)
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Reliability Physics Symposium (9th :1971 :Las Vegas, Nev.) (1)
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Roccaforte, Fabrizio (1)
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Scheuermann, Uwe (1)
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Strong, Alvin Wayne (1)
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Symposium Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low k Dielectrics 2003 San Francisco, Calif (1)
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Symposium on Laser Process for Microelectronic Applications 1991 Phoenix, Ariz (1)
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Symposium on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown 1991 Phoenix, Ariz (1)
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Tao, Guoqiao (1)
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Turner, Andrew A. (1)
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Ueda, Osamu (1)
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Unterreitmeier, Marianne (1)
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Wang, Mingxiang (1)
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Weigel, Robert (1)
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