Zimmermann, F.
[Author];
Gärtner, G.
[Author];
Sträter, H.
[Author];
Röder, C.
[Author];
Barchuk, M.
[Author];
Bastin, D.
[Author];
Hofmann, P.
[Author];
Krupinski, M.
[Author];
Mikolajick, T.
[Author];
Heitmann, J.
[Author];
Beyer, F. C.
[Author]
You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.
Amsterdam : Elsevier, [2022]
Tapajna, M.;
Killat, N.;
Moereke, J.;
Paskova, T.;
Evans, K. R.;
Leach, J.;
Li, X.;
Ozgur, Ü;
Morkoc, H.;
Chabak, K. D.;
Crespo, A.;
Gillespie, J. K.;
Fitch, R.;
Kossler, M.;
Walker, D. E.;
Trejo, M.;
Via, G. D.;
Blevins, J. D.;
Kuball, M.
You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.
IEEE, 2010
Published in:Proceedings of the IEEE
Killat, N.;
Montes, M.;
Pomeroy, J. W.;
Paskova, T.;
Evans, K. R.;
Leach, J.;
Li, X.;
Ozgur, U.;
Morkoc, H.;
Chabak, K. D.;
Crespo, A.;
Gillespie, J. K.;
Fitch, R.;
Kossler, M.;
Walker, D. E.;
Trejo, M.;
Via, G. D.;
Blevins, J. D.;
Kuball, M.