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Medientyp: Buch Titel: Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse Beteiligte: Bünau, Günther von [VerfasserIn]; Kloeppel, Klaus-Dieter [VerfasserIn] Erschienen: Opladen: Westdeutscher Verlag, 1981 Erschienen in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 3049 Umfang: 23 S.; graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 3531030493 RVK-Notation: VG 9807 : Dissertationen, Habilitationsschriften, wertvollere und umfangreichere Sonderdrucke Schlagwörter: Sekundärionen-Massenspektrometrie > Oberflächenanalyse Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 0682 00287 001 Barcode: 10253410 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden