Nur in Feld suchen:

  • Alles
  • Person/Institution
  • Titel
  • Schlagwort/Stichwort
  • Barcode
  • ISBN/ISSN/ISMN/DOI
  • RVK-Notation
  • Signatur
  • Verlag/Ort
  • Serie/Reihe
  • Provenienz

Zuletzt gesuchte Begriffe:

> Detailanzeige

Lienig, Jens [Verfasser:in] ; Thiele, Matthias [Verfasser:in]

Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design

Per Whatsapp teilen

Merkliste Schließen

Merkliste



Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
  • Medientyp: Buch
  • Titel: Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design
  • Beteiligte: Lienig, Jens [Verfasser:in] ; Thiele, Matthias [Verfasser:in]
  • Erschienen: Cham: Springer, [2018]
  • Umfang: xiii, 159 Seiten; Illustrationen, Diagramme
  • Sprache: Englisch
  • ISBN: 9783319735573
  • RVK-Notation: ZN 4904 : Schaltungsentwurf
  • Entstehung:
  • Anmerkungen:

Exemplare

(0)

Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand

Signatur: ZN 4904 L719 E3
Barcode: 34777700
  • Status: Ausleihbar

Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand

Signatur: ZN 4904 L719 E3
Barcode: 34777701
  • Status: Ausleihbar

Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand

Signatur: ZN 4904 L719 E3
Barcode: 34777702
  • Status: Benutzung nur im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung