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Medientyp: Buch Titel: Improved low degree testing and its applications Beteiligte: Arora, Sanjeev [VerfasserIn]; Sudan, Madhu [VerfasserIn] Erschienen: Almaden [u.a.]: IBM, 1997 Erschienen in: Thomas J. Watson Research Center: Research report / RC ; 20746 Umfang: 35 S. Sprache: Englisch RVK-Notation: SS 5104 : Research Report (IBM): RC Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Thomas J. Watson Research Center <Yorktown Heights, NY>: Research report / RC
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 1997 4 009754 001 Barcode: 10014468 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden