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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Zur on-chip Testmustergenerierung für den Elektronenstrahltest Beteiligte: Groß, Josef [VerfasserIn] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verlag, 1993 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 162 Ausgabe: Als Ms. gedr. Umfang: VIII, 133 S; graph. Darst; 21 cm Sprache: Deutsch ISBN: 3181462098 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Elektronenstrahltesten > Testmustergenerierung > Integrierte Schaltung Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Hannover, Univ., Diss. : 1993 Anmerkungen: Literaturverz. S. 123 - 133 Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschrittberichte VDI / 9