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Medientyp: Buch Titel: Lock-in thermography : basics and use for functional diagnostics of electronic components Enthält: Literaturverz. S. [173] - 179 Beteiligte: Breitenstein, Otwin [VerfasserIn]; Langenkamp, Martin [VerfasserIn] Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003 Erschienen in: Advanced microelectronics ; 10 Umfang: VIII, 193 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3540434399 RVK-Notation: ZN 4032 : Nichtelektrische Prüfverfahren Schlagwörter: Infrarotthermographie Infrarotthermographie Elektrisches Bauelement > Prüftechnik Entstehung: Anmerkungen: Includes bibliographical references and index Weitere Bestandsnachweise 0 : Advanced microelectronics