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Medientyp: Buch Titel: Thermal testing of integrated circuits Beteiligte: Altet, Josep [VerfasserIn]; Rubio, Antonio [VerfasserIn] Erschienen: Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2002 Enthält: Umfang: XIV, 204 S.; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 1402070764 Entstehung: RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Testen Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Testen Integrierte Schaltung > Thermodynamische Eigenschaft > Funktionstest Anmerkungen: Includes bibliographical references