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Medientyp: Buch Titel: Infrared characterization for microelectronics Beteiligte: Lau, W. S. [VerfasserIn] Erschienen: Singapore [u.a.]: World Scientific, 1999 Umfang: X, 160 S; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 9810223528 RVK-Notation: UH 6000 : Infrarot- und Ferninfrarotspektroskopie, Fouriertransformationsinfrarotspektroskopie (FTIR) insgesamt, Allgemeines ZN 3400 : Allgemeines Schlagwörter: Infrarotspektroskopie Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 2000 8 019134 001 Barcode: 10087554 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden