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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Beteiligte: Hess, Christopher [VerfasserIn] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verlag, 1998 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 278 Ausgabe: Als Ms. gedr Umfang: XI, 202 S.; Ill., graph. Darst; Ill., graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 318327809X Entstehung: RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Halbleitertechnologie > Fehlerortung > Elektrische Messung > Integrierte Schaltung > CAT > Entwurfsautomation Anmerkungen: Literaturverz. S. 191 - 202 Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschrittberichte VDI / 9