> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch Titel: Positron annihilation in semiconductors : defect studies; with 20 tables Beteiligte: Krause-Rehberg, Reinhard [VerfasserIn]; Leipner, Hartmut S. [VerfasserIn] Erschienen: Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Hong Kong; London; Milan; Paris; Singapore; Tokyo: Springer, 1999 Erschienen in: Springer series in solid-state sciences ; 127 Umfang: XV, 378 S.; graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3540643710 RVK-Notation: UP 3200 : Transportprozesse in Halbleitern, Gunn-Element, Gunn-Effekt Schlagwörter: Halbleiter > Gitterbaufehler > Elektron-Positron-Vernichtung Entstehung: Anmerkungen: Literaturverz. S. [353] - 374 Weitere Bestandsnachweise 0 : Springer series in solid-state sciences