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Medientyp: Buch Titel: Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state Beteiligte: Rosenauer, Andreas [VerfasserIn] Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003 Erschienen in: Springer tracts in modern physics ; 182 Physics and astronomy online library Umfang: XII, 238 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3540004149 RVK-Notation: UD 9310 : Springer Tracts in modern physics VG 9900 : Allgemeines Schlagwörter: Verbindungshalbleiter > Nanostruktur > Durchstrahlungselektronenmikroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Habil.-Schr., 2001 Anmerkungen: Literaturangaben Weitere Bestandsnachweise 0 : Springer tracts in modern physics