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Medientyp: Buch Titel: Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials Beteiligte: Breitenstein, Otwin [VerfasserIn]; Warta, Wilhelm [VerfasserIn]; Langenkamp, Martin [VerfasserIn] Erschienen: Berlin; Heidelberg: Springer, 2010 Erschienen in: Advanced microelectronics ; 10 Ausgabe: 2. ed. Umfang: X, 255 S.; Ill., graph. Darst; 235 mm x 155 mm Sprache: Englisch ISBN: 9783642024160; 9783642264788 Verlags-, Produktions- oder Bestellnummern: Sonstige Nummer: 12249428 RVK-Notation: ZQ 3820 : Temperaturmessung ZM 3700 : zerstörungsfreie ZN 4032 : Nichtelektrische Prüfverfahren Schlagwörter: Infrarotthermographie Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Advanced microelectronics
Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand Signatur: ZN 4032 B835(2) Barcode: 33220080 Status: Ausleihbar