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Medientyp: Buch Titel: Atomic force microscopy Enthält: Introduction -- AFM instrumentation -- AMF modes -- Measuring AFM images -- AFM image processing and analysis -- AFM image artefacts -- Applications of AFM. Beteiligte: Eaton, Peter [VerfasserIn]; West, Paul [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, c 2010 Umfang: VIII, 248 S.; Ill., graph. Darst; 26 cm Sprache: Englisch ISBN: 0199570450; 9780199570454 RVK-Notation: UH 6320 : Rastersondenmikroskopie allgemein Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Bestand der TU Dresden Signatur: 2015 4 000304 Barcode: 11863676N Status: Verfügbarkeit bitte in Center Advancing Electronics Dresden CfAED erfragen.