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Medientyp: Buch Titel: Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures Beteiligte: Stanisavljevic, Milos [VerfasserIn]; Schmid, Alexandre [VerfasserIn]; Leblebici, Yusuf [VerfasserIn] Erschienen: New York; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2011 Ausgabe: 1. ed. Umfang: XXVII, 195 S.; Ill., graph. Darst; 235 mm x 155 mm Sprache: Englisch ISBN: 9781441962164; 1441962166 Verlags-, Produktions- oder Bestellnummern: Sonstige Nummer: 12784110 Entstehung: RVK-Notation: ZN 3700 : Mikromechanik (hier auch Nanotechnologie) ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Schlagwörter: Nanoelectromechanical systems Reliability ; Nanoelectronics ; Nanoelectromechanical systems ; Reliability Anmerkungen: Literaturverz. S. 177 - 190