• Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Depth-resolved soft x-ray photoelectron emission microscopy in nanostructures via standing-wave excited photoemission
  • Beteiligte: Kronast, F. [VerfasserIn]; Ovsyannikov, R. [VerfasserIn]; Schneider, C. M. [VerfasserIn]; Eberhardt, W. [VerfasserIn]; Fadley, C.S. [VerfasserIn]; Kaiser, A. [VerfasserIn]; Wiemann, C. [VerfasserIn]; Yang, S.-H. [VerfasserIn]; Bürgler, D. E. [VerfasserIn]; Schreiber, R. [VerfasserIn]; Salmassi, F. [VerfasserIn]; Fischer, P. [VerfasserIn]; Dürr, H. A. [VerfasserIn]
  • Erschienen: American Institute of Physics, 2008
  • Erschienen in: Applied physics letters 93, (2008). doi:10.1063/1.3046782
  • Sprache: Englisch
  • DOI: https://doi.org/10.1063/1.3046782
  • ISSN: 0003-6951
  • Schlagwörter: photoemission ; multilayers ; gold ; photoelectron microscopy ; X-ray microscopy ; molybdenum compounds ; silver ; cobalt ; nanostructured materials ; silicon
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
  • Beschreibung: We extend conventional laterally-resolved soft x-ray photoelectron emission microscopy to provide depth resolution along the surface normal down to a few angstroms. This is achieved by using standing-wave excitation. The sample is a Ag/Co/Au trilayer, grown on a Si/MoSi2 multilayer mirror, with the bottom Ag layer in a wedge profile. Tuning the incident x-ray to the mirror Bragg angle sets up a standing x-ray wave field in the multilayer and the trilayer wedge structure. We demonstrate the resulting depth resolution by imaging the standing-wave fields as they move through the trilayer wedge structure.
  • Zugangsstatus: Freier Zugang