DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
DIN EN 62878-1-1
: Trägermaterial mit eingebetteten Bauteilen - Teil 1-1: Fachgrundspezifikation - Prüfverfahren (IEC 62878-1-1:2015); Deutsche Fassung EN 62878-1-1:2015
- [2016-03-00]
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Medientyp:
Norm
Titel:
DIN EN 62878-1-1
:
Trägermaterial mit eingebetteten Bauteilen - Teil 1-1: Fachgrundspezifikation - Prüfverfahren (IEC 62878-1-1:2015); Deutsche Fassung EN 62878-1-1:2015
Weitere Titel:
Früher unter dem Titel: DIN EN 62326-18 (2013-07)
Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods (IEC 62878-1-1:2015); German version EN 62878-1-1:2015
Substrat avec appareil(s) intégré(s) - Partie 1-1: Spécification générique - Méthodes d'essai (IEC 62878-1-1:2015); Version allemande EN 62878-1-1:2015
Anmerkungen:
Früher unter Titel: DIN EN 62326-18 (2013-07) Internat. Übereinstimmung mit: EN 62878-1-1 (2015-07), IDT; IEC 62878-1-1 (2015-05), IDT
Beschreibung:
Dieser Teil von IEC 62878 legt die Prüfverfahren für Trägermaterialien mit eingebetteten passiven und aktiven Bauteilen fest. Die grundlegenden Prüfverfahren für die Leiterplattenmaterialien und die Träger selbst sind in IEC 61189-3 festgelegt.