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Medientyp: E-Artikel Titel: Direct observation of the atomic structure of interfaces in the systems Si-SiO2 and Ge-GeO2 Beteiligte: Pasemann, M.; Pchelyakov, O.P. Erschienen: Elsevier BV, 1982 Erschienen in: Journal of Crystal Growth, 58 (1982) 1, Seite 288-289 Sprache: Englisch DOI: 10.1016/0022-0248(82)90239-1 ISSN: 0022-0248 Schlagwörter: Materials Chemistry ; Inorganic Chemistry ; Condensed Matter Physics Entstehung: Anmerkungen: