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Isheim, D.; Stadermann, F.J.; Lewis, J.B.; Floss, C.; Daulton, T.L.; Davis, A.M.; Heck, P.R.; Pellin, M.J.; Savina, M.R.; Seidman, D.N.; Stephan, T.

Combining Atom-Probe Tomography and Focused-Ion Beam Microscopy to Study Individual Presolar Meteoritic Nanodiamond Particles

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Combining Atom-Probe Tomography and Focused-Ion Beam Microscopy to Study Individual Presolar Meteoritic Nanodiamond Particles
  • Beteiligte: Isheim, D.; Stadermann, F.J.; Lewis, J.B.; Floss, C.; Daulton, T.L.; Davis, A.M.; Heck, P.R.; Pellin, M.J.; Savina, M.R.; Seidman, D.N.; Stephan, T.
  • Erschienen: Oxford University Press (OUP), 2013
  • Erschienen in: Microscopy and Microanalysis
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1017/s1431927613006867
  • ISSN: 1431-9276; 1435-8115
  • Schlagwörter: Instrumentation
  • Entstehung:
  • Anmerkungen:
  • Beschreibung: <jats:p>Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.</jats:p>