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Medientyp: E-Artikel Titel: Synchrotron X-Ray Topography Studies of the Evolution of the Defect Microstructure in Physical Vapor Transport Grown 4H-SiC Single Crystals Beteiligte: Dudley, Michael; Raghothamachar, Balaji; Wang, Huanhuan; Wu, Fangzhen; Byrappa, Shayan; Chung, Gil; Sanchez, Edward K; Mueller, Stephan; Hansen, Darren; Loboda, Mark Erschienen: The Electrochemical Society, 2013 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1149/ma2013-02/25/1938 ISSN: 2151-2043 Schlagwörter: General Medicine Entstehung: Anmerkungen: Beschreibung: <jats:p>Abstract not Available.</jats:p> Zugangsstatus: Freier Zugang