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Medientyp: E-Artikel Titel: Two-Dimensional Critical Point Configuration Graphs Beteiligte: Lee, R. Nackman Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1984 Erschienen in: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, PAMI-6 (1984) 4, Seite 442-450 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tpami.1984.4767549 ISSN: 0162-8828 Schlagwörter: Applied Mathematics ; Artificial Intelligence ; Computational Theory and Mathematics ; Computer Vision and Pattern Recognition ; Software Entstehung: Anmerkungen: