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Medientyp: E-Artikel Titel: Bayesian Reliability & Availability¿A Review Beteiligte: Tillman, Frank A.; Kuo, Way; Hwang, C.L.; Grosh, Doris Lloyd Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1982 Erschienen in: IEEE Transactions on Reliability, R-31 (1982) 4, Seite 362-372 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tr.1982.5221378 ISSN: 0018-9529 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Safety, Risk, Reliability and Quality Entstehung: Anmerkungen: