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Medientyp: E-Artikel Titel: Single Shot Residue Localization and Classification in Crystallographic Electron Density Maps Beteiligte: Godo, Akos; Aoki, Kota; Nakagawa, Atsushi; Yagi, Yasushi Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022 Erschienen in: IEEE Access, 10 (2022), Seite 108354-108365 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/access.2022.3213670 ISSN: 2169-3536 Schlagwörter: General Engineering ; General Materials Science ; General Computer Science ; Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang