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Medientyp: Buch; Konferenzbericht Titel: Secondary ion mass spectrometry 2, Stanford, Calif., USA, Aug. 27 - 31, 1979 / ed.: A. Benninghoven ... Beteiligte: Benninghoven, Alfred [Hrsg.] Veranstaltung: SIMS Erschienen: 1979 Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 2 Springer series in chemical physics ; 9 Sprache: Nicht zu entscheiden ISBN: 3540098437; 0387098437 RVK-Notation: VG 9808 : Kongresse, Tagungsberichte, Fortbildungslehrgänge, Symposien Schlagwörter: Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Springer series in chemical physics