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  1. Mohl, Hans [VerfasserIn]

    Vergleichende fehlertheoretische Untersuchungen über die Genauigkeit verschiedener Verfahren der photogrammetrischen Streifentriangulation

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    München: Verl. der Bayerischen Akademie der Wissenschaften, 1970 ; München: Beck [in Komm.], 1970

    Erschienen in: Bayerische Akademie der Wissenschaften: Deutsche Geodätische Kommission bei der Bayerischen Akademie der Wissenschaften / C ; 149

  8. Heckel, Werner [VerfasserIn] ; Geiger, Manfred [AkademischeR BetreuerIn]; Geiger, Manfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Jüptner, Uni Bremen, W. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Geiger, Manfred [HerausgeberIn]; Feldmann, Klaus [HerausgeberIn]

    Optische 3D-Konturerfassung und on-line Biegewinkelmessung mit dem Lichtschnittverfahren

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    Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2020

    Erschienen in: Fertigungstechnik - Erlangen ; 43

  10. Wong, Eugene [VerfasserIn] ; Kowarschik, Richard [AkademischeR BetreuerIn]; Tutsch, Rainer [AkademischeR BetreuerIn]; Lehmann, Peter [AkademischeR BetreuerIn] Friedrich-Schiller-Universität Jena

    Development of a calibration pipeline for a monocular-view structured illumination 3D sensor utilizing an array projector

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    Jena, [2021?]

  11. Haist, Tobias [VerfasserIn]; Schönleber, Martin [VerfasserIn]; Tiziani, Hans J. [VerfasserIn]

    Positioning of noncooperative objects using joint transform correlation combined with fringe projection

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    Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 1998

  12. Heinemann, Carolin [VerfasserIn] ; Krekel, Christoph [AkademischeR BetreuerIn]

    Evaluation der Streifenprojektion zur Zustandsanalyse und zum Monitoring von Veränderungsprozessen bei Gemälden

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    Heidelberg: Universitätsbibliothek Heidelberg, 14 Januar 2022

  13. Hein, Niclas [VerfasserIn] ; Krekel, Christoph [AkademischeR BetreuerIn]; Schaible, Volker [AkademischeR BetreuerIn]

    Die materielle Veränderung von Kunst durch Transporte : Monitoring und Transportschadensbewertung an Gemälden durch das Streifenprojektionsverfahren

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    [Jan. 2016]

  16. DIN-Normenausschuss Nichteisenmetalle (FNNE), Nonferrous Metals Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN ISO 2128 : Anodisieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen - Bestimmung der Dicke von anodisch erzeugten Oxidschichten - Zerstörungsfreie Messung mit Lichtschnittmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010 - [2010-12-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2010

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  17. DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP), Materials Testing Standards Committee, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN ISO 3882 : Metallische und andere anorganische Überzüge - Übersicht über Verfahren zur Schichtdickenmessung (ISO 3882:2024); Deutsche Fassung EN ISO 3882:2024 - [2024-04-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2024

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  18. ISO/TC 107 Metallische und andere anorganische Überzüge, ISO/TC 107 Metallic and other inorganic coatings, ISO/TC 107 Revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques, ISO Internationale Organisation für Normung, ISO International Organization for Standardization, ISO Organisation Internationale de Normalisation

    ISO 3882 : Metallic and other inorganic coatings - Review of methods of measurement of thickness - [2024-01-00]

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    Geneve: International Organization for Standardization, 2024

    Erschienen in: ISO-Regelwerk- ISO-Normen

  19. ISO/TC 79 Leichtmetalle und deren Legierungen, ISO/TC 79 Light metals and their alloys, ISO/TC 79 Métaux légers et leurs alliages, ISO Internationale Organisation für Normung, ISO International Organization for Standardization, ISO Organisation Internationale de Normalisation

    ISO 2128 : Anodizing of aluminium and its alloys - Determination of thickness of anodic oxidation coatings - Non-destructive measurement by split-beam microscope - [2010-09-00]

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    Geneve: International Organization for Standardization, 2010

    Erschienen in: ISO-Regelwerk- ISO-Normen