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Reiche, Christopher Friedrich [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators

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Dresden: TUDpress, 2016

Erschienen in: Dresdner Beiträge zur Sensorik ; 62
Sapra, K. Tanuj [Verfasser:in]

Single-molecule measurements of complex molecular interactions in membrane proteins using atomic force microscopy

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2007
Schumacher, Hans Werner [Verfasser:in]

Nanostrukturierung mit dem Rasterkraftmikroskop : vom zweidimensionalen Elektronengas zum Einzelelektronentransistor

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Berlin: Logos Verl., 2000
Setiono, Andi [Verfasser:in] ; Peiner, Erwin [Akademische:r Betreuer:in]; Kowalsky, Wolfgang [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Braunschweig, Verlag Dr. Hut München

Parasitic-crosstalk elimination in electrothermal piezoresistive cantilever resonators for real-time frequency-tracking operation - [1. Auflage]

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München: Verlag Dr. Hut, 2021

Erschienen in: Elektrotechnik
Xu, Jiushuai [Verfasser:in] ; Peiner, Erwin [Akademische:r Betreuer:in]; Kowalsky, Wolfgang [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Braunschweig, Verlag Dr. Hut München

Three-dimensional-nanopatterned resonant silicon microcantilevers for gas detection - [1. Auflage]

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München: Verlag Dr. Hut, 2021

Erschienen in: Elektrotechnik
Nyang'au, Wilson Ombati [Verfasser:in] ; Peiner, Erwin [Akademische:r Betreuer:in]; Kowalsky, Wolfgang [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Braunschweig, Verlag Dr. Hut München

Microcantilever-based measurement of mass and magnetic moment of liquidborne magnetic micro and nanoparticles - [1. Auflage]

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München: Dr. Hut, 2021

Erschienen in: Elektrotechnik
Körner, Julia [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

Gekoppelte Oszillatoren als neuartige Sensoren für Cantilever-Magnetometrie

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Dresden: TUDpress, 2016

Erschienen in: Dresdner Beiträge zur Sensorik ; 64
Brendel, Christian [Verfasser:in]

THz-Mikroskopie mit supraleitenden Josephson-Cantilevern und optisch gepumptem Ferninfrarot- Gaslasersystem

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Berlin: Mensch-und-Buch-Verl., 2012

Erschienen in: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 38
Chen, Xiaomei [Verfasser:in]

Atomic force microscope (AFM) cantilevers as encoder for real-time displacement measurements

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Berlin: Mensch-und-Buch-Verl., 2011

Erschienen in: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 36
Tollkühn, Marco [Verfasser:in] ; Schilling, Meinhard [Akademische:r Betreuer:in]; Siegner, Uwe [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Braunschweig

THz-Mikroskopie von Mikrowellenbauelementen und optischen Terahertz-Komponenten

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Berlin: Mensch und Buch Verlag, [2023]

Erschienen in: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 80
Stewing, Felix [Verfasser:in]

Multi-Parameter-Mikroskopie mit Josephson-Cantilevern

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Berlin: mbv, Mensch-und-Buch-Verl., 2010

Erschienen in: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 33
Köhler, Denny [Verfasser:in]

Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen der elektrischen und magnetischen Eigenschaften multiferroischer Systeme

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2011
Wendel, Martin [Verfasser:in]

Herstellung und Untersuchung von Halbleiterbauelementen mit dem Rasterkraftmikroskop

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München: Diss.-Verl. NG-Kopierladen, 1997
Göken, Mathias [Verfasser:in]

Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1995

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 175
Leyk, Andreas [Verfasser:in]

Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen - [Als Ms. gedr.]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1998

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 69400
Franzka, Steffen [Verfasser:in]

Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen zur Reibung von Silicium- und Al 2 O 3-Einkristalloberflächen im Kontakt mit Silicium

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Karlsruhe: Institut für Keramik im Maschinenbau Universität Karlsruhe, 1999

Erschienen in: Institut für Keramik im Maschinenbau: IKM ; 27
Vorbringer-Dorozhovets, Nataliya [Verfasser:in] ; Jäger, Gerd [Akademische:r Betreuer:in]; Theska, René [Akademische:r Betreuer:in]; Osten, Wolfgang [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Ilmenau

Laserinterferometrisches Rasterkraftmikroskop

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Ilmenau: Universitätsbibliothek, 14. Juni 2019
Leisten, Frank [Verfasser:in]

Manipulation und Analyse der Topographie von Proteinstrukturen in Flüssigkeit mit dem Rasterkraftmikroskop - [published Version]

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Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2008
Lösch, Sören [Verfasser:in]

Gemischte und einfache Parameteridentiﬁkation mittels der Finiten-Elemente-Methode an Nanoindentationsmessungen

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2013
Hink, Steffen [Verfasser:in]

Zeitaufgelöste Untersuchungen der lokalen Protonen-Ströme von Nafion® unter Verwendung elektrochemischer Rasterkraftmikroskopie

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2012

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