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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen Beteiligte: Leyk, Andreas [VerfasserIn] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verl., 1998 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI ; 69400 Ausgabe: Als Ms. gedr. Umfang: XII, 153 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 3183694085 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Elektronisches Bauelement > Hochfrequenztechnik > Testen > Rasterkraftmikroskopie Hochfrequenzschaltung > Testen > Rasterkraftmikroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Duisburg, Univ.-Gesamthochsch., Diss., 1998 Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschrittberichte VDI / 8