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  1. Meixner, Alfred J. [Herausgeber:in]; Fleischer, Monika [Herausgeber:in]; Kern, Dieter P. [Herausgeber:in]; Höppener, Christiana [Herausgeber:in]; Mackowski, Sebastian [Herausgeber:in]; Adam, Pierre-Michel [Herausgeber:in]; Rodriguez, Raul D. [Herausgeber:in]; Gucciardi, Pietro G. [Herausgeber:in]; Sheremet, Evgeniya [Herausgeber:in]; McMillan, Norman [Herausgeber:in] ; Walter de Gruyter GmbH & Co. KG

    Optical nanospectroscopy

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    Berlin; Boston: De Gruyter, [2023]

  7. Chen, Xiaomei [Verfasser:in]

    Atomic force microscope (AFM) cantilevers as encoder for real-time displacement measurements

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    Berlin: Mensch-und-Buch-Verl., 2011

    Erschienen in: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 36

  8. Schwierz, Frank [Verfasser:in]; Wong, Hei [Verfasser:in]; Liou, Juin J. [Verfasser:in]

    Nanometer CMOS

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    Singapore: Pan Stanford Publ., 2010

  9. Hausotte, Tino [Verfasser:in] ; Jäger, Gerd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schmitt, Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gerlach, Gerald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Nanopositionier- und Nanomessmaschinen : Geräte für hochpräzise makro- bis nanoskalige Oberflächen- und Koordinatenmessungen - [1. Aufl.]

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    Berlin: Pro Business, 2011

  12. Meixner, Alfred J. [Herausgeber:in]; Fleischer, Monika [Herausgeber:in]; Kern, Dieter P. [Herausgeber:in]; Sheremet, Evgeniya [Herausgeber:in]; McMillan, Norman [Herausgeber:in] ; Walter de Gruyter GmbH & Co. KG

    Optical nanospectroscopy / Volume 3, Applications / edited by Alfred J. Meixner, Monika Fleischer, Dieter P. Kern, Evgeniya Sheremet, Norman McMillan

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    Berlin; Boston: De Gruyter, [2023]

    Erschienen in: Optical nanospectroscopy / edited by Alfred J. Meixner, Monika Fleischer, Dieter P. Kern, Christiana Höppener, Sebastian Mackowski, Pierre-Michel Adam, Raul D. Rodriguez, Pietro G. Gucciardi ; 3