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  3. Zerbst, Manfred [HerausgeberIn]; Cuno, Hans-Hellmuth [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Meß- und Prüftechnik

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986

    Erschienen in: Halbleiter-Elektronik ; 2000

  4. Meyendorf, Norbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Meyendorf, Norbert G. H. [HerausgeberIn] ; National Institute of Standards and Technology USA, SPIE, The International Society for Optical Engineering

    Testing, reliability, and application of micro- and nano-material systems : 3 - 5 March 2003, San Diego, California, USA

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    Bellingham, Wash.: SPIE, 2003

    Erschienen in: SPIE, The International Society for Optical Engineering: Proceedings ; 5045

  9. Zhao, Yang [VerfasserIn] ; Chakrabarty, Krishnendu [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Design and testing of digital microfluidic biochips

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    New York; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013

  16. Benton, Janet L. [HerausgeberIn]; Maracas, George Nicolas [HerausgeberIn]; Rai-Choudhury, P. [HerausgeberIn] ; Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices 2 1991 Phoenix, Ariz, Electrochemical Society Electronics Division, Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division

    Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices : [... the compilation of the papers ...]

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    Pennington, N.J.: Electrochemical Society, 1992

    Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 92,2

  17. Wiklund, Michael E. [VerfasserIn]; Kendler, Jonathan [VerfasserIn] ; Strochlic, Allison Y. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Usability testing of medical devices

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    Boca Raton, Fl.a [u.a.]: CRC Press, 2011

  18. Grasserbauer, Manfred [HerausgeberIn]; Werner, H. W. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Analysis of microelectronic materials and devices

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    Chichester [u.a.]: John Wiley & Sons, 1991

  19. Fleetwood, Daniel M. [VerfasserIn] ; Pantelides, Sokrates T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pantelides, Sokrates [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald Donald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Defects in microelectronic materials and devices

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2009