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  1. Lifshin, Eric [HerausgeberIn]

    X-ray characterization of materials

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    Weinheim [u.a.]: Wiley-VCH, 1999

  2. Snyder, Robert L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiala, Jaroslav [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bunge, Hans-Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Defect and microstructure analysis by diffraction - [Repr.]

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    Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2005

    Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10

  3. Snyder, Robert L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiala, Jaroslav [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bunge, Hans J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Union of Crystallography

    Defect and microstructure analysis by diffraction - [1. publ.]

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    Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1999

    Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10

  4. Dinnebier, Robert E. [HerausgeberIn]; Billinge, Simon J. L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Powder diffraction : theory and practice

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    Cambridge: RSC Publ., 2008

  5. Mittemeijer, Eric J. [HerausgeberIn]; Scardi, Paolo [HerausgeberIn] ; Size-Strain Conference 5 2007 Garmisch-Partenkirchen

    Size-Strain V - diffraction analysis of the microstructure of materials : proceedings of the 5th Size-Strain Conference, held october 7 - 9, 2007 in Garmisch-Partenkirchen, Germany

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    München: Oldenbourg, 2008

    Erschienen in: Zeitschrift für Kristallographie / Supplement ; 27