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Snyder, Robert L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiala, Jaroslav [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bunge, Hans J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Union of Crystallography

Defect and microstructure analysis by diffraction - [1. publ.]

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Medientyp: Buch
Titel: Defect and microstructure analysis by diffraction
Beteiligte: Snyder, Robert L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiala, Jaroslav [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bunge, Hans J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
Körperschaft: International Union of Crystallography
Erschienen: Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1999
Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10
Ausgabe: 1. publ.
Umfang: XXII, 785 S.; graph. Darst
Sprache: Englisch
ISBN: 0198501897
RVK-Notation: UQ 5600 : Röntgenspektroskopie, -mikroskopie, Röntgenfluoreszenzspektroskopie und Analyse
Schlagwörter: Kristall > Gitterbaufehler > Röntgendiffraktometrie
Diffraktometrie > Gitterbaufehler
Röntgenstrukturanalyse
Entstehung:
Anmerkungen: Includes bibliographical references and index
Weitere Bestandsnachweise
0 : IUCr monographs on crystallography

Exemplare

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Signatur: UQ 5600 S675
Barcode: 30635384

Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Halbleiterphysik erfragen.