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  2. Aamir, Syed Ahmed [Verfasser:in]; Müller, Paul [Verfasser:in]; Kiene, Gerd [Verfasser:in]; Kriener, Laura [Verfasser:in]; Stradmann, Yannik [Verfasser:in]; Grübl, Andreas [Verfasser:in]; Schemmel, Johannes [Verfasser:in]; Meier, Karlheinz [Verfasser:in]

    A mixed-signal structured AdEx neuron for accelerated neuromorphic cores

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    July 24, 2018

    Erschienen in: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on biomedical circuits and systems ; 12(2018), 5, Seite 1027-1037

  3. Prytkova, Ekaterina [Verfasser:in]; Vannuccini, Simone [Verfasser:in]

    On the Basis of Brain : Neural-Network-Inspired Change in General Purpose Chips

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    [S.l.]: SSRN, [2021]

    Erschienen in: SWPS 2020-01

  4. Stern, Maike [Verfasser:in] ; Eskofier, Björn [Akademische:r Betreuer:in]; Meyer-Wegener, Klaus [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Development of a Fully-Convolutional-Network Architecture for the Detection of Defective LED Chips in Photoluminescence Images

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    Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2020

  5. Lange, E.; Nitta, Y.; Kyuma, K.

    Optical neural chips

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1994

    Erschienen in: IEEE Micro, 14 (1994) 6, Seite 29-41

  6. K, Karthika; K, Tejashree; M., Naveen Rajan; R, Namita

    Towards Strong AI with Analog Neural Chips

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    AM Publications, 2023

    Erschienen in: International Journal of Innovative Research in Advanced Engineering, 10 (2023) 6, Seite 394-399

  18. Gou, Guang-Yang; You, Changhua; Yao, Pan; Guo, Yu-Sen; Liu, Tie-Zhu; Song, Zi-Xuan; He, Ben-Yuan; Yin, MingHui; Zhang, Xuan; Liu, Chunxiu; Zhou, Jun; Sun, Xuan; Zhuang, Chengyu; Gu, Yuan-Dong; Yao, Lei; Xue, Ning; Zhao, Ming

    A 16-channel Si probe monolithically integrated with CMOS chips for neural recording

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    Elsevier BV, 2024

    Erschienen in: Sensors and Actuators Reports, 8 (2024), Seite 100206

  20. Ullah, Waseem; Khan, Samee Ullah; Kim, Min Je; Hussain, Altaf; Munsif, Muhammad; Lee, Mi Young; Seo, Daeho; Baik, Sung Wook

    Industrial defective chips detection using deep convolutional neural network with inverse feature matching mechanism

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    Oxford University Press (OUP), 2024

    Erschienen in: Journal of Computational Design and Engineering, 11 (2024) 3, Seite 326-336