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  1. Murarka, Shyam P. [HerausgeberIn] ; Materials Research Society

    Advanced metallization for devices and circuits - science, technology and manufacturability : symposium held April 4 - 8, 1994, San Francisco, California, USA

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    Pittsburgh, Penn.: Materials Research Society, 1994

    Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 33700

  5. Kröger, Philipp Constantin [VerfasserIn] ; Pfnür, Herbert [MitwirkendeR]; Tegenkamp, Christoph [MitwirkendeR]

    Elektronischer Transport in spinpolarisierten Oberflächen - [published Version]

    Hochschulschriften
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    Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2017

  6. Glaser, Mathias [VerfasserIn] ; Chassé, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]

    Untersuchung der elektronischen Wechselwirkungen an Grenzflächen zwischen Organischen Halbleitermaterialien und ultra-dünnen Oxidfilmen

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    Tübingen: Universitätsbibliothek Tübingen, 2016

  7. Lofink, Fabian [VerfasserIn] ; Oepen, Hans Peter [AkademischeR BetreuerIn]

    Oberflächensensitive Abbildung magnetischer Feinstrukturen des Domänenmusters von Ni(111) und geknickter Nanodrähte

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    Hamburg: Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2014

  8. Trenkmann, Ines [VerfasserIn] ; von Borczyskowski, Christian [AkademischeR BetreuerIn]; von Borczyskowski, Christian [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Salvan, Georgeta [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Mikroskopie und optische Spektroskopie an heterogenen Nano- und Mikrostrukturen: Halbleiter-Nanokristalle, molekulare Farbstofffilme und funktionalisierte Hybridstrukturen

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    Chemnitz: Universitätsbibliothek Chemnitz, 2015

  9. Dhakal, Dileep [VerfasserIn]

    Growth monitoring of ultrathin copper and copper oxide films deposited by atomic layer deposition = Untersuchungen zum Wachstum ultradünner Kupfer- und Kupferoxid Schichten mittels Atomlagenabscheidung

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    Chemnitz, [2016]

  10. Wächtler, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gruska, Bernd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schulz, Stefan E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Technische Universität Chemnitz-Zwickau Zentrum für Mikrotechnologien, Sentech Instruments GmbH Berlin, Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration Abteilung Multi Device Integration, International Conference on Solid State and Integrated Circuits Technology 8 2006 Schanghai

    Characterization of sputtered Ta and TaN films by spectroscopic ellipsometry : [8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology, 2006 (ICSICT '06), Oct. 23-26, 2006, Shanghai, China]

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    [S.l.]: Techn. Univ. Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, 2007

  11. Wächtler, Thomas [VerfasserIn]

    Thin films of Copper oxide and Copper grown by atomic layer deposition for applications in metallization systems of microelectronic devices = Dünne Schichten von Kupferoxid und Kupfer hergestellt mittels Atomlagenabscheidung zur Anwendung in Metallisierungssystemen mikroelektronischer Bauelemente

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    Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2010

  13. Zinner, Martin Gerhard [VerfasserIn] ; Geurts, Jean [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Reinert, Friedrich [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Adsorbat-induzierte Oberflächensysteme und ultra-dünne intermetallische Legierungsfilme im Fokus der niederenergetischen Elektronenbeugung und spektroskopischer Analysemethoden

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    Würzburg: Universität Würzburg, 2020

  14. Altmann, Korinna; Schulze, Rolf‐Dieter; Hidde, Gundula; Friedrich, Jörg

    Elektrospray‐Ionisation (ESI) : Lochfreie elektrophoretische Abscheidung von ultra‐dünnen Polymerschichten : Lochfreie elektrophoretische Abscheidung von ultra‐dünnen Polymerschichten

    Aufsätze
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    Wiley, 2011

    Erschienen in: Vakuum in Forschung und Praxis

  15. Borkner, Christian [VerfasserIn] ; Scheibel, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]

    Untersuchung (ultra-)dünner Filme und Beschichtungen aus dem rekombinanten Spinnenseidenprotein eADF4(C16) für die biomedizinische Anwendung

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    Bayreuth: Universität Bayreuth, 2020