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  3. Veal, Timothy David [Herausgeber:in]; McConville, Christopher F. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schaff, William Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Indium nitride and related alloys

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, c 2010

  8. Taylor, Philip Craig [Herausgeber:in] ; Materials Research Society, Symposium on Amorphous Silicon Technology 1990 San Francisco, Calif

    Amorphous silicon technology, 1990 : symposium held April 17 - 20, 1990, San Francisco, California, U.S.A.

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    Pittsburgh, Pa: Materials Research Society, 1990

    Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 19200

  9. Kuball, Martin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Symposium GaN, Aln, InN and Related Materials 2005 Boston, Mass

    GaN, AlN, InN and related materials : symposium held November 28 - December 2, 2005, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; [Symposium FF... held ... at the 2005 MRS fall meeting]

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    Warrendale, Pa.: Materials Research Society, 2006

    Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 89200

  13. Eckner, Stefanie [Verfasser:in] ; Schnohr, Claudia Sarah [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lützenkirchen-Hecht, Dirk [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pagès, Olivier [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Vibrational dynamics in semiconductor compounds and alloys

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    Jena: Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2019

  14. Dietrich, Christof P. [Verfasser:in]; Lange, Mike [Verfasser:in]; Benndorf, Gesa [Verfasser:in]; Lenzner, Jörg [Verfasser:in]; Lorenz, Michael [Verfasser:in]; Grundmann, Marius [Verfasser:in]

    Competing exciton localization effects due to disorder and shallow defects in semiconductor alloys

    Aufsätze
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    Bristol: IOP Publishing, [2022]

    Erschienen in: New Journal of Physics ; 12, (2010)

  15. Knaub, Nikolai [Verfasser:in] ; Volz, Kerstin [Akademische:r Betreuer:in]

    Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

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    Marburg: Philipps-Universität Marburg, 2016

  17. Sakalauskas, Egidijus [Verfasser:in] ; Goldhahn, Rüdiger [Akademische:r Betreuer:in]; Esser, Norbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Krischok, Stefan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Optical Properties of Wurtzite InN and Related Alloys

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    Ilmenau: TU Ilmenau, 2013

  19. International SiGe Technology and Device Meeting 3 2006 Princeton, NJ, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    Third International SiGe Technology and Device Meeting, 2006 : 15 - 17 May 2006, [Princeton University, Princeton, NJ, USA]

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    Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 2006