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  1. Irwin, J. David [Verfasser:in] ; Wu, Chwan-Hwa [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Basic engineering circuit analysis - [6. ed.]

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    Upper Saddle River, N.J: Prentice-Hall, 1999

  2. Abramovici, Miron [Verfasser:in]; Breuer, Melvin A. [Verfasser:in]; Friedman, Arthur D. [Verfasser:in]

    Digital systems testing and testable design - [Rev. print.]

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    New York, NY: IEEE Press, 1990

    Erschienen in: Electrical engineering, circuits and systems, computers

  3. Bochmann, Dieter [Herausgeber:in]; Ubar, Raimund [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Allnoch, Günter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Fehler in Automaten - [1. Aufl.]

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    Berlin: Verl. Technik, 1989

  4. Gerner, Manfred [Verfasser:in]; Müller, Bruno [Verfasser:in]; Sandweg, Gerd [Verfasser:in]

    Selbsttest digitaler Schaltungen

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    München; Wien: Oldenbourg, 1990

    Erschienen in: Grundlagen der Schaltungstechnik

  5. Morgenstern, Claus [Verfasser:in]

    Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / 2, Bild- und Anlagenband

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    1985

    Erschienen in: Prognose und Optimierung der Qualtitätsmerkmale und Zuverlässigkeitskenngrößen von Erzeugnissen bei monotoner Parameterdrift / Claus Morgenstern ; 2