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Medientyp: Buch Titel: Failure analysis : high technology devices Beteiligte: Sullivan, Daniel J. D. [Verfasser:in]; Carleton, Eric J. [Verfasser:in] Erschienen: Boston; Berlin: De Gruyter, [2022] Erschienen in: De Gruyter STEM Umfang: VIII, 120 Seiten; Illustrationen; 24 cm x 17 cm Sprache: Englisch ISBN: 9781501524783; 150152478X RVK-Notation: ZN 5680 : Fehleranalyse; Zuverlässigkeit Schlagwörter: Technisches System > Spitzentechnologie > Fehlererkennung > Diagnosesystem Entstehung: Anmerkungen: