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  6. O'Connor, Patrick D. T. [VerfasserIn] ; Newton, David [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Practical reliability engineering - [4. ed.]

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    Chichester [u.a.]: Wiley, 2002

  10. Peled, Doron [VerfasserIn]

    Software reliability methods

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    New York, NY; Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2001

    Erschienen in: Texts in computer science

  12. Tummala, Rao R. [HerausgeberIn] ; Advanced Research Workshop on Electronic Packaging for High Reliability, Low Cost Electronics 1997 Bled

    Electronic packaging for high reliability, low cost elctronics : [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Electronic Packaging for High Reliability, Low Cost Electronics, Bled, Slovenia, May 10 - 13, 1997]

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    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 1999

    Erschienen in: NATO: NATO ASI series / Partnership sub-series / 3 ; 57

  14. Ionescu, Dumitru Cezar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Limnios, Nikolaos [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Ionescu, Dumitru C. [HerausgeberIn] ; International Conference on Mathematical Methods in Reliability 1 1997 Bukarest

    Statistical and probabilistic models in reliability : [... presented at the 1st International Conference on Mathematical Methods in Reliability held at the Politehnica University of Bucharest from 16 to 19 September 1997]

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    Boston; Berlin [u.a.]: Birkhäuser, 1999

    Erschienen in: Statistics for industry and technology

  15. Ayyub, Bilal M. [VerfasserIn] ; McCuen, Richard H. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Probability, statistics, & reliability for engineers

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 1997

  16. Oates, Anthony S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Materials reliability in microelectronics / 5, Symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California,U.S.A./eds.: Anthony S. Oates

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    Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1995

    Erschienen in: Materials reliability in microelectronics ; 5 - Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 391

  17. Pham, Hoang [HerausgeberIn]

    Software reliability and testing

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    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society Press, 1995

  19. Børgesen, Peter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Materials reliability in microelectronics / 4, Symposium held April 5 - 8, 1994, San Francisco, California,U.S.A./eds.: Peter Børgesen

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    Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1994

    Erschienen in: Materials reliability in microelectronics ; 4 - Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 338

  20. Muhlbauer, W. K. [VerfasserIn]; Muhlbauer, W. Kent [VerfasserIn]

    Pipeline risk management manual

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    Houston [u.a.]: Gulf Pub. Co, 1992