Zum Inhalt springen Reliability and Maintainability Symposium (1989 :Atlanta, Ga.) 1989 proceedings, Annual Reliability and Maintainability Symposium : Atlanta, Georgia, USA, 1989 January 24-26 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, N.Y: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1989 Reliability and Maintainability Symposium (1988 :Los Angeles, Calif.) 1988 proceedings, annual Reliability and Maintainability Symposium : Los Angeles, California, USA, 1988 January 26-28 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1988 Reliability and Maintainability Symposium (1984 :San Francisco, Calif.), Institute of Electrical and Electronics Engineers 1984 proceedings annual Reliability and Maintainability Symposium : San Francisco, California, USA, 1984 January 24-26 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [New York]: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1984 Dhillon, B. S. [VerfasserIn] SYSTEM SAFETY, MAINTAINABILITY, AND MAINTENANCE FOR ENGINEERS Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9781000892291/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: CRC PRESS, 2023 American Society for Quality Electronics and Communications Division 2015 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) : 26 - 29 Jan. 2015, Innisbrook Golf & Spa Resort Palm Harbor, Florida, USA ; proceedings & tutorials Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2015 American Society for Quality Electronics and Communications Division 2014 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) : 27 - 30 Jan. 2014, Colorado Springs, Colorado, USA ; proceedings & tutorials Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2014 En, Yunfei [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo dian zi xue hui 2014 International Conference on Reliability, Maintainability and Safety (ICRMS) : 6 - 8 Aug. 2014, Guangzhou, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2014 American Society for Quality Electronics and Communications Division Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2013 : 28 - 31 Jan. 2013, Orlando, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2013 American Institute of Aeronautics and Astronautics Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2012 : 23 - 26 Jan. 2012, Reno, Nevada Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2012 Xu, Bo [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo-Xianchang-Tongji-Yanjiuhui, IEEE Reliability Society 9th International Conference on Reliability, Maintainability and Safety (ICRMS), 2011 : 12 - 15 June 2011, Guiyang, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2011 Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2011 : 24 - 27 Jan. 2011, Lake Buena Vista, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2011 Institute of Electrical and Electronics Engineers Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2010 : San Jose, California, USA, 25 - 28 Jan. 2010 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2010 Kang, Rui [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo-Hangkong-Xuehui, IEEE Reliability Society 8th International Conference on Reliability, Maintainability and Safety, 2009 : ICRMS 2009 ; 20 - 24 July 2009, Chengdu, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2009 Institute of Electrical and Electronics Engineers, Reliability and Maintainability Symposium 55 2009 Fort Worth, Tex Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 : RAMS 2009 ; 26 - 29 Jan. 2009, Forth Worth, Texas, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2009 Institute of Electrical and Electronics Engineers Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 : RAMS 2008 ; Las Vegas, Nevada, USA, 2008, 28 - 31 Jan. Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2008 Institute of Electrical and Electronics Engineers Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2007 : RAMS '07 ; 22 - 25 Jan. 2007, Orlando, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2007 Autotestcon 90 (1990 :San Antonio, Tex.), Institute of Electrical and Electronics Engineers Conference record : Autotestcon 90, September 17-20, 1990, IEEE Systems Readiness Technology Conference, San Antonio Convention Center, San Antonio, Texas Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piascataway [sic], NJ (445 Hoews Lane, Piscataway 08855-1331): May be ordered from Order Dept., IEEE, 1990 Smith, David J [VerfasserIn] Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers - [Ninth edition.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9780081020227/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Kidlington, Oxford, United Kingdom ;; Cambridge, MA: Butterworth-Heinemann, [2017] Smith, David J. [VerfasserIn] Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers - [8th ed.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9780080969039/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Amsterdam ;; Boston: Butterworth-Heinemann/Elsevier, 2011 Erschienen in: IChemE Shoshitaishvili, Yan [VerfasserIn] ; Association for Computing Machinery-Digital Library, ACM Special Interest Group on Security, Audit, and Control Proceedings of the 2018 Workshop on Forming an Ecosystem Around Software Transformation Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via ACM Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: ACM, 2018 Erschienen in: ACM Digital Library- ACM Conferences
Reliability and Maintainability Symposium (1989 :Atlanta, Ga.) 1989 proceedings, Annual Reliability and Maintainability Symposium : Atlanta, Georgia, USA, 1989 January 24-26 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, N.Y: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1989
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Reliability and Maintainability Symposium (1988 :Los Angeles, Calif.) 1988 proceedings, annual Reliability and Maintainability Symposium : Los Angeles, California, USA, 1988 January 26-28 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1988
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Reliability and Maintainability Symposium (1984 :San Francisco, Calif.), Institute of Electrical and Electronics Engineers 1984 proceedings annual Reliability and Maintainability Symposium : San Francisco, California, USA, 1984 January 24-26 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [New York]: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1984
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Dhillon, B. S. [VerfasserIn] SYSTEM SAFETY, MAINTAINABILITY, AND MAINTENANCE FOR ENGINEERS Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9781000892291/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: CRC PRESS, 2023
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American Society for Quality Electronics and Communications Division 2015 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) : 26 - 29 Jan. 2015, Innisbrook Golf & Spa Resort Palm Harbor, Florida, USA ; proceedings & tutorials Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2015
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American Society for Quality Electronics and Communications Division 2014 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) : 27 - 30 Jan. 2014, Colorado Springs, Colorado, USA ; proceedings & tutorials Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2014
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En, Yunfei [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo dian zi xue hui 2014 International Conference on Reliability, Maintainability and Safety (ICRMS) : 6 - 8 Aug. 2014, Guangzhou, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2014
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American Society for Quality Electronics and Communications Division Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2013 : 28 - 31 Jan. 2013, Orlando, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2013
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American Institute of Aeronautics and Astronautics Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2012 : 23 - 26 Jan. 2012, Reno, Nevada Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2012
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Xu, Bo [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo-Xianchang-Tongji-Yanjiuhui, IEEE Reliability Society 9th International Conference on Reliability, Maintainability and Safety (ICRMS), 2011 : 12 - 15 June 2011, Guiyang, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2011
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Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2011 : 24 - 27 Jan. 2011, Lake Buena Vista, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2011
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Proceedings / Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2010 : San Jose, California, USA, 25 - 28 Jan. 2010 Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2010
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Kang, Rui [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Zhongguo-Hangkong-Xuehui, IEEE Reliability Society 8th International Conference on Reliability, Maintainability and Safety, 2009 : ICRMS 2009 ; 20 - 24 July 2009, Chengdu, China Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2009
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Institute of Electrical and Electronics Engineers, Reliability and Maintainability Symposium 55 2009 Fort Worth, Tex Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 : RAMS 2009 ; 26 - 29 Jan. 2009, Forth Worth, Texas, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2009
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 : RAMS 2008 ; Las Vegas, Nevada, USA, 2008, 28 - 31 Jan. Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2008
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2007 : RAMS '07 ; 22 - 25 Jan. 2007, Orlando, FL, USA Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piscataway, NJ: IEEE, 2007
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Autotestcon 90 (1990 :San Antonio, Tex.), Institute of Electrical and Electronics Engineers Conference record : Autotestcon 90, September 17-20, 1990, IEEE Systems Readiness Technology Conference, San Antonio Convention Center, San Antonio, Texas Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via IEEE Xplore Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Piascataway [sic], NJ (445 Hoews Lane, Piscataway 08855-1331): May be ordered from Order Dept., IEEE, 1990
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Smith, David J [VerfasserIn] Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers - [Ninth edition.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9780081020227/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Kidlington, Oxford, United Kingdom ;; Cambridge, MA: Butterworth-Heinemann, [2017]
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Smith, David J. [VerfasserIn] Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers - [8th ed.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://learning.oreilly.com/library/view/-/9780080969039/?ar Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Amsterdam ;; Boston: Butterworth-Heinemann/Elsevier, 2011 Erschienen in: IChemE
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Shoshitaishvili, Yan [VerfasserIn] ; Association for Computing Machinery-Digital Library, ACM Special Interest Group on Security, Audit, and Control Proceedings of the 2018 Workshop on Forming an Ecosystem Around Software Transformation Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via ACM Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: ACM, 2018 Erschienen in: ACM Digital Library- ACM Conferences
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (375) Wert ausschließen Bücher (58) Wert ausschließen Normen (27) Wert ausschließen Konferenzberichte (2) Wert ausschließen Hochschulschriften (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (4) Wert ausschließen Magazinbestellung (7) Wert ausschließen Verfügbarkeit vor Ort erfragen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (11) Wert ausschließen Zweigbibliothek Forstwissenschaft (1) Wert ausschließen Zentralbibliothek (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Rechte-/Nutzungshinweis Skip to next facet Urheberrechtsschutz (27) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (78) Wert ausschließen Eingeschränkter Zugang (27) Wert ausschließen Ohne Angabe (347) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (235) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (205) Wert ausschließen Deutsch (28) Wert ausschließen Japanisch (2) Wert ausschließen Spanisch (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (338) Wert ausschließen Physik (167) Wert ausschließen Mathematik (164) Wert ausschließen Allgemeines (130) Wert ausschließen Wirtschaftswissenschaften (55) Wert ausschließen Informatik (52) Wert ausschließen Geographie (20) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (12) Wert ausschließen Geologie und Paläontologie (8) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaft (6) Wert ausschließen Biologie (6) Wert ausschließen Medizin (4) Wert ausschließen Land- und Forstwirtschaft, Gartenbau, Fischereiwirtschaft, Hauswirtschaft (3) Wert ausschließen Kunst und Kunstgeschichte (2) Wert ausschließen Pädagogik (2) Wert ausschließen Psychologie (1) Wert ausschließen Soziologie (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet DIN Deutsches Institut für Normung e. V. (22) Wert ausschließen DIN German Institute for Standardization (22) Wert ausschließen DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (20) Wert ausschließen German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE (20) Wert ausschließen Institute of Electrical and Electronics Engineers (19) Wert ausschließen Conejos, Sheila (5) Wert ausschließen Houshyar, A. (5) Wert ausschließen Kumar, Ashish (5) Wert ausschließen Luo, Xu (5) Wert ausschließen Saini, Monika (5) Wert ausschließen IEEE Aerospace and Electronic Systems Society (4) Wert ausschließen Russell, Jeffrey S. (4) Wert ausschließen American Society for Quality Electronics and Communications Division (3) Wert ausschließen Chew, M.Y.L. (3) Wert ausschließen Chew, Michael Y.L. (3) Wert ausschließen Chew, Michael Yit Lin (3) Wert ausschließen De Silva, Nayanthara (3) Wert ausschließen Ganisen, Shubashini (3) Wert ausschließen Ge, Zhexue (3) Wert ausschließen Heydorn, Richard P. (3) Wert ausschließen IEEE Instrumentation and Measurement Society (3) Wert ausschließen IEEE Reliability Society (3) Wert ausschließen ISO International Organization for Standardization (3) Wert ausschließen ISO Internationale Organisation für Normung (3) Wert ausschließen ISO Organisation Internationale de Normalisation (3) Wert ausschließen Kanniyapan, Gunavathy (3) Wert ausschließen Mohammad, Izran Sarrazin (3) Wert ausschließen Mohammed, Abdul Hakim (3) Wert ausschließen O'Connor, P. D. T. (3) Wert ausschließen Patil, Rajkumar Bhimgonda (3) Wert ausschließen Society of Automotive Engineers (3) Wert ausschließen Tsarouhas, Panagiotis (3) Wert ausschließen Wohl, Joseph G. (3) Wert ausschließen Yang, Yongmin (3) Wert ausschließen Zizes, P. A. (3) Wert ausschließen Al-Dahidi, Sameer (2) Wert ausschließen Arvanitoyannis, Ioannis S. (2) Wert ausschließen Bernard, Fabien (2) Wert ausschließen Bishop, Judith (2) Wert ausschließen Blanchard, Ben S. (2) Wert ausschließen Byrd, William (2) Wert ausschließen Chen, Le (2) Wert ausschließen Chew, Michael Y. L. (2) Wert ausschließen Das, Sutapa (2) Wert ausschließen Feng, Hui Juan (2) Wert ausschließen Frizziero, Leonardo (2) Wert ausschließen Galar, Diego (2) Wert ausschließen Guan, Fengjiao (2) Wert ausschließen Guo, Zhi Qi (2) Wert ausschließen Hao, Jian Ping (2) Wert ausschließen Jawahar Nesan, Lenin (2) Wert ausschließen K, Velmurugan (2) Wert ausschließen Kumar, Shailendra (2) Wert ausschließen Leake, C (2) Wert ausschließen Li, He (2) Wert ausschließen Li, Ying (2) Wert ausschließen Liu, Hu (2) Wert ausschließen Lu, Zhong (2) Wert ausschließen Lv, Chuan (2) Wert ausschließen Mo, Song (2) Wert ausschließen Moua, Blia (2) Wert ausschließen Ntuen, Celestine A. (2) Wert ausschließen Othman, Ayman Ahmed Ezzat (2) Wert ausschließen P, Venkumar (2) Wert ausschließen Paquin, Raphael (2) Wert ausschließen Park, Eui H. (2) Wert ausschließen Pecht, Michael (2) Wert ausschließen Peng, Gaoliang (2) Wert ausschließen Peterson, Elmer L. (2) Wert ausschließen Pukite, Jan (2) Wert ausschließen Pukite, Paul (2) Wert ausschließen R, Sudhakarapandian (2) Wert ausschließen Retterer, Bernard L. (2) Wert ausschließen Saghatforoush, Ehsan (2) Wert ausschließen Seneviratne, Dammika (2) Wert ausschließen Smith, David J. (2) Wert ausschließen Strichartz, H. (2) Wert ausschließen Tan, S.S. (2) Wert ausschließen Teymourian, Kiumars (2) Wert ausschließen Tsarouhas, Panagiotis H. (2) Wert ausschließen VDI - The Association of German Engineers (2) Wert ausschließen VDI Society Product and Process Design (2) Wert ausschließen VDI Verein Deutscher Ingenieure e.V. (2) Wert ausschließen VDI-Gesellschaft Produkt- und Prozessgestaltung (2) Wert ausschließen Wan Husain, Wan Mohd Sufian (2) Wert ausschließen Wang, Mei Hui (2) Wert ausschließen Wen, Xisen (2) Wert ausschließen Wu, Xu Dong (2) Wert ausschließen Wu, Zhe (2) Wert ausschließen Xu, Da (2) Wert ausschließen Zhou, Dong (2) Wert ausschließen ACM Special Interest Group on Security, Audit, and Control (1) Wert ausschließen ANDREW, IAN (1) Wert ausschließen Abdallah, Fahed (1) Wert ausschließen Abdel-Basset, Mohamed (1) Wert ausschließen Abdullah @ Mohd Asmoni, Mat Naim (1) Wert ausschließen Acero, Alicia (1) Wert ausschließen Adler, M.R. (1) Wert ausschließen Adumene, Sidum (1) Wert ausschließen Agyekum, Kofi (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (127) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (58) Wert ausschließen Trans Tech Publications, Ltd. (CrossRef) (30) Wert ausschließen Informa UK Limited (CrossRef) (28) Wert ausschließen Nautos (DIN-Normen) (22) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (20) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (19) Wert ausschließen Emerald (CrossRef) (19) Wert ausschließen MDPI AG (CrossRef) (15) Wert ausschließen Wiley (CrossRef) (13) Wert ausschließen SAGE Publications (CrossRef) (9) Wert ausschließen American Institute of Aeronautics and Astronautics (AIAA) (CrossRef) (7) Wert ausschließen American Society of Civil Engineers (ASCE) (CrossRef) (7) Wert ausschließen Blue Eyes Intelligence Engineering and Sciences Engineering and Sciences Publication - BEIESP (CrossRef) (7) Wert ausschließen Hindawi Limited (CrossRef) (4) Wert ausschließen Penerbit UTM Press (CrossRef) (4) Wert ausschließen Walter de Gruyter GmbH (CrossRef) (4) Wert ausschließen ACTA Press (CrossRef) (3) Wert ausschließen JSTOR (CrossRef) (3) Wert ausschließen Nautos (ISO-Normen) (3) Wert ausschließen Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne (CrossRef) (3) Wert ausschließen Springer Berlin Heidelberg (CrossRef) (3) Wert ausschließen World Scientific Pub Co Pte Lt (CrossRef) (3) Wert ausschließen ASME International (CrossRef) (2) Wert ausschließen ASTES Journal (CrossRef) (2) Wert ausschließen Engineering, Project, and Production Management (EPPM) (CrossRef) (2) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (2) Wert ausschließen Institution of Engineering and Technology (IET) (CrossRef) (2) Wert ausschließen International Hellenic University (CrossRef) (2) Wert ausschließen JSTOR Arts & Sciences VII Archive (2) Wert ausschließen JSTOR Mathematics & Statistics (2) Wert ausschließen Japan Society for Precision Engineering (CrossRef) (2) Wert ausschließen Nautos (VDI-Normen) (2) Wert ausschließen Seventh Sense Research Group Journals (CrossRef) (2) Wert ausschließen South Florida Publishing LLC (CrossRef) (2) Wert ausschließen AEDERMACP (European Association for the Development of Renewable Energies and Power Quality) (CrossRef) (1) Wert ausschließen AIP Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen Architectural Institute of Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen BASE - Bielefeld Academic Search Engine (1) Wert ausschließen Chinese Journal of Mechanical Engineering (CrossRef) (1) Wert ausschließen Defence Scientific Information and Documentation Centre (CrossRef) (1) Wert ausschließen Dnipro University of Technology (CrossRef) (1) Wert ausschließen EJournal Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen FSUE All-Russian Scientific Research Institute of Aviation Materials (CrossRef) (1) Wert ausschließen Faculty of Engineering, Chulalongkorn University (CrossRef) (1) Wert ausschließen Hikari, Ltd. (CrossRef) (1) Wert ausschließen ICT Academy (CrossRef) (1) Wert ausschließen IMEKO International Measurement Confederation (CrossRef) (1) Wert ausschließen IWA Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan) (CrossRef) (1) Wert ausschließen International Council for Research and Innovation in Building and Construction (CrossRef) (1) Wert ausschließen International Digital Organization for Scientific Information (IDOSI) (CrossRef) (1) Wert ausschließen International Information and Engineering Technology Association (CrossRef) (1) Wert ausschließen Obuda University (CrossRef) (1) Wert ausschließen SCI AND TECH UNIVERSAL INC (CrossRef) (1) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (1) Wert ausschließen SPIE-Intl Soc Optical Eng (CrossRef) (1) Wert ausschließen Springer International Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen Sultan Qaboos University (CrossRef) (1) Wert ausschließen Tanjungpura University (CrossRef) (1) Wert ausschließen Universidad Industrial de Santander (CrossRef) (1) Wert ausschließen Universidad de Antioquia (CrossRef) (1) Wert ausschließen University of Defence (CrossRef) (1) Wert ausschließen University of Szeged (CrossRef) (1) Wert ausschließen Zhejiang University Press (CrossRef) (1) Wert ausschließen theses.fr (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen