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Institute of Electrical and Electronics Engineers

Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 : RAMS 2008 ; Las Vegas, Nevada, USA, 2008, 28 - 31 Jan.

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  • Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
  • Titel: Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2008 : RAMS 2008 ; Las Vegas, Nevada, USA, 2008, 28 - 31 Jan
  • Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers
  • Erschienen: Piscataway, NJ: IEEE, 2008
  • Umfang: Online-Ressource (516 S.)
  • Sprache: Englisch
  • ISBN: 142441461X; 1424414601; 9781424414611; 9781424414604
  • Schlagwörter: Zuverlässigkeit > Wartungsfreundlichkeit > Qualität
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Auch zitiert als: International Symposium on Product Quality and Integrity
    Kongr.-Thema: Dawn to dusk - life cycle prescriptions
    Parallel als Druckausg. erschienen u.d.T.: 2008 proceedings // Annual Reliability and Maintainability Symposium