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Van Grieken, René E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Markowicz, Andrzej A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Van Grieken, René [HerausgeberIn]

Handbook of x-ray spectrometry - [2. ed., rev. and expanded]

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New York, NY; Basel: Dekker, 2002

Erschienen in: Practical spectroscopy ; 2900
Meyer, Dirk C. [VerfasserIn]

Anwendung von Röntgen-Absorptionsspektroskopie und Röntgen-Diffraktometrie unter resonanten Streubedingungen zur Charakterisierung der strukturellen Nahordnung und des Phasenbestandes

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2000
Götze, Jens [VerfasserIn]

Cathodoluminescence microscopy and spectroscopy in applied mineralogy - [1. Aufl]

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Freiberg: TU Bergakad., 2000

Erschienen in: Freiberger Forschungshefte / C ; 48500
Ahlers, Dirk [VerfasserIn] ; Ahlers, Dirk O. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Magnetic EXAFS : an experimental and theoretical investigation

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Aachen: Shaker, 2000

Erschienen in: Berichte aus der Physik
Kielwein, Matthias [VerfasserIn]

Polarisationsabhängige Röntgenabsorptionsspektroskopie an niederdimensionalen Übergangsmetalloxiden

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2000
Broll, Norbert [HerausgeberIn] ; Colloque Rayons X et Matière 3 1999 Straßburg

Rayons X et matière : RX 99 Ecole Nationale Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, - France, 7 - 10 décembre 1999, [le troisième colloque ... tenu à Strasbourg du 7 au 10 décembre 1999 ...]

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Les Ulis: Les Éd. de Physique, 2000

Erschienen in: Journal de physique / 4 ; 10,10
Bauch, Jürgen [VerfasserIn]

Röntgen-Drehschwenk- und KOSSEL-Technik als innovative Mikrobeugungsverfahren und ihr Einsatz in der Materialforschung

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2001
Fewster, Paul F. [VerfasserIn]

X-ray scattering from semiconductors

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London [u.a.]: Imperial College Press, 2000
Snyder, Robert L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiala, Jaroslav [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bunge, Hans J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Union of Crystallography

Defect and microstructure analysis by diffraction - [1. publ.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1999

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10
Schneider, Gerd [VerfasserIn]

High-resolution x-ray microscopy of radiation sensitive material - [1. Aufl]

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Göttingen: Cuvillier, 1999
Kleuker, Ulf [VerfasserIn]

Medical imaging with scattered X-rays - [1. Aufl.]

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Konstanz: Hartung-Gorre, 1999

Erschienen in: Konstanzer Dissertationen ; 570
Amort, Holger Ernst [VerfasserIn]

Neuentwicklung eines XRF und kombinierten XRF/XRD-Analyseverfahrens mit der X-Ray-Camera zur Untersuchung der Systeme Silber/Eisen und Kupfer/Eisen

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1998
The principles and practice of X-ray microanalysis / 1, An introduction to X-ray microanalysis

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High Wycombe: Oxford Instuments, 1998

Erschienen in: The principles and practice of X-ray microanalysis ; 1
The principles and practice of X-ray microanalysis / 2, The theory and practice to X-ray microanalysis

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High Wycombe: Oxford Instuments, 1998

Erschienen in: The principles and practice of X-ray microanalysis ; 2
Cornet, Alain [HerausgeberIn] ; Colloque Rayons X et Matière 2 1997 Straßburg

Rayons X et matière : Ecole Nationale Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg 14 - 16 octobre 1997

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Les Ulis: Les Éd. de Physique, 1998

Erschienen in: Journal de physique / 4 ; 8,5
Thieme, Jürgen [HerausgeberIn] ; XRM 5 1996 Würzburg

X-ray microscopy and spectromicroscopy : status report from the fifth international conference, Würzburg, August 19 - 23, 1996; the book contains the invited papers, the CD-ROM contains all contributions to the conference

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998
Woolfson, Michael M. [VerfasserIn]

An introduction to X-ray crystallography - [2. ed.]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Press, 1997
Herr, Werner [VerfasserIn]

Röntgenographische Untersuchungen über die thermische Stabilität von Struktur und Eigenspannungen gesputterter PVD-Schichten und deren Einfluss auf die mechanischen und tribologischen Eigenschaften - [Als Ms. gedr.]

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Aachen: Shaker, 1997

Erschienen in: Berichte aus der Werkstofftechnik
Coppens, Philip [VerfasserIn]

X-ray charge densities and chemical bonding

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1997

Erschienen in: Texts on crystallography ; 4
Krivoglaz, Michail A. [VerfasserIn]

X-ray and neutron diffraction in nonideal crystals

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1996

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