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Welberry, Thomas R. [VerfasserIn]

Diffuse x-ray scattering and models of disorder - [Second edition]

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Oxford: Oxford University Press, [2022]

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 31
Spieß, Lothar [VerfasserIn]; Teichert, Gerd [VerfasserIn]; Schwarzer, Robert [VerfasserIn]; Behnken, Herfried [VerfasserIn]; Genzel, Christoph [VerfasserIn]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [3., überarbeitete Auflage]

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Wiesbaden; [Heidelberg]: Springer Spektrum, [2019]
Goldstein, Joseph [VerfasserIn]; Newbury, Dale E. [VerfasserIn]; Michael, Joseph R. [VerfasserIn]; Ritchie, Nicholas W. M. [VerfasserIn]; Scott, John Henry J. [VerfasserIn]; Joy, David C. [VerfasserIn]

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis - [Fourth edition]

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New York, NY, U.S.A.: Springer, [2018]
Egerton, Ray [VerfasserIn]

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Second edition]

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[Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016]
Carter, C. Barry [HerausgeberIn]; Williams, David B. [HerausgeberIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn eines Vorworts]

Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry

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[Cham, Switzerland]: Springer, [2016]
Schnohr, Claudia S. [HerausgeberIn]

X-ray absorption spectroscopy of semiconductors

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2015

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 190
Zolotoyabko, Emil [VerfasserIn]

Basic concepts of X-ray diffraction

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Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2014]
Luger, Peter [VerfasserIn]

Modern X-ray analysis on single crystals : a practical guide - [2. ed., fully rev. and extended]

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Berlin [u.a.]: de Gruyter, 2014
Patterson, Bruce D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Paul Scherrer Institut Abteilung für Strahlenschutz und Sicherheit

Time-resolved x-ray spectroscopy : mapping electron flow in matter with the ATHOS beamline at SwissFEL

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Villigen: Paul Scherrer Institut, 2014

Erschienen in: Paul Scherrer Institut: PSI-Bericht ; 2014,01
Gubicza, Jenö [VerfasserIn]

X-ray line profile analysis in materials science

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Hershey, Pa.: Engineering Science Reference/IGI Globa, 2014

Erschienen in: Research essentials
Svergun, Dmitri I. [HerausgeberIn]; Koch, Michel H. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Timmins, Peter A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; May, Roland P. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Small angle x-ray and neutron scattering from solutions of biological macromolecules - [1. ed.]

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Oxford: Oxford University Press, 2013

Erschienen in: Texts on crystallography ; 19
Ladd, M. F. C. [VerfasserIn]; Palmer, Rex A. [VerfasserIn]

Structure determination by X-ray crystallography : analysis by X-rays and neutrons ; celebrating the Centenary of X-Ray Crystallography - [5. ed.]

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New York; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2013

Erschienen in: Chemistry
Erni, Rolf [VerfasserIn]

Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction

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London: Imperial College Pr., 2010
Glusker, Jenny P. [VerfasserIn]; Glusker, Jenny Pickworth [VerfasserIn]; Trueblood, Kenneth N. [VerfasserIn]

Crystal structure analysis : a primer - [3. ed.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2010

Erschienen in: Texts on crystallography ; 14
Welberry, Thomas R. [VerfasserIn] ; Welberry, T. R. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] International Union of Crystallography

Diffuse x-ray scattering and models of disorder - [1. publ. in paperback]

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Oxford [u.a.]: Oxford University Press, 2010

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 16,2010
Peng, Lian-Mao [VerfasserIn]; Dudarev, Sergej L. [VerfasserIn]; Whelan, M. J. [VerfasserIn]

High-energy electron diffraction and microscopy - [Repr.]

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Oxford: Oxford University Press, 2010

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 61,2010
Bunker, Grant [VerfasserIn]

Introduction to XAFS : a practical guide to X-ray absorption fine structure spectroscopy

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Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Press, 2010
Shimizu, Kenichi [VerfasserIn]; Mitani, Tomoaki [VerfasserIn]

New horizons of applied scanning electron microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2010

Erschienen in: Springer series in surface sciences ; 45
Linck, Martin [VerfasserIn]

Off-axis Holografie im aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskop

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2010
Soukup, Rudolf Werner [VerfasserIn]

Paracelsus und die Röntgendiffraktometrie : archäometrische Nachweise für die Herstellung paracelsischer Präparate in einem Laboratorium des 16. Jahrhunderts

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2010

Erschienen in: Praxis der Naturwissenschaften - Chemie in der Schule ; 59(2010), 5, Seite 12-16

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