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Medientyp: Buch Titel: Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM Beteiligte: Egerton, Ray [VerfasserIn] Erschienen: [Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016] Ausgabe: Second edition Umfang: xi, 196 Seiten; Illustrationen, Diagramme Sprache: Englisch ISBN: 9783319819860; 9783319398761; 9783319398778 RVK-Notation: ZM 8000 : Allgemeine, zusammenfassende Darstellungen UH 6200 : Teilchenoptik und Elektronenmikroskopie allgemein VG 9900 : Allgemeines WC 3100 : Elektronenmikroskopie UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Elektronenmikroskopie Elektronenmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke