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  1. Huang, Daming; Liu, W. J.; Liu, Zhiying; Liao, C. C.; Zhang, Li-Fei; Gan, Zhenghao; Wong, Waisum; Li, Ming-Fu

    A Modified Charge-Pumping Method for the Characterization of Interface-Trap Generation in MOSFETs

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009

    Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices

  3. Baoguang Yan; Jingfeng Yang; Zhiliang Xia; Xiaoyan Liu; Gang Du; Ruqi Han; Jinfeng Kang; Liao, C.C.; Zhenghao Gan; Miao Liao; Wang, J.P.; Waisum Wong

    Anomalous Negative Bias Temperature Instability Degradation Induced by Source/Drain Bias in Nanoscale PMOS Devices

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nanotechnology

  4. Li, Mengsha; Chen, Pingfan; Zhang, Yingli; Zhang, Yuan; Liu, Zhenghao; Tang, Chunhua; Chung, Jing Yang; Gu, Mingqiang; Li, Junxue; Huang, Zhen; Chow, Gan Moog; Li, Changjian; Pennycook, Stephen J.

    Atomic Origins of Enhanced Ferroelectricity in Nanocolumnar PbTiO3/PbO Composite Thin Films

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    Wiley, 2023

    Erschienen in: Small

  5. Wang, Shaoqing; Yang, Xiancun; Su, Meixia; Liu, Qiang; Gong, Tao; Mao, Qi; Zhao, Shuguang; Han, Fang; Mao, Keming; Liu, Yixian; Zhu, Yanchun; Li, Shuo; Yang, Jie; Fu, Nan; Yu, Shaode; Li, Rongmao; Xiong, Jing; Xie, Yaoqin; Wang, Shuihua; Du, Sidan; Chen, Zhimin; Phillips, Preetha; Chen, Shuwen; Lu, Zeyuan; [...]

    The 5th International Conference on Biomedical Engineering and Biotechnology (ICBEB 2016) : Hangzhou, China. 1-8 August 2016 : Hangzhou, China. 1-8 August 2016

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    Springer Science and Business Media LLC, 2016

    Erschienen in: BMC Medical Imaging