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Medientyp: E-Artikel Titel: A Modified Charge-Pumping Method for the Characterization of Interface-Trap Generation in MOSFETs Beteiligte: Huang, Daming; Liu, W. J.; Liu, Zhiying; Liao, C. C.; Zhang, Li-Fei; Gan, Zhenghao; Wong, Waisum; Li, Ming-Fu Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/ted.2008.2010585 ISSN: 0018-9383 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: