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  1. Goldstein, Joseph [VerfasserIn]; Newbury, Dale E. [VerfasserIn]; Michael, Joseph R. [VerfasserIn]; Ritchie, Nicholas W. M. [VerfasserIn]; Scott, John Henry J. [VerfasserIn]; Joy, David C. [VerfasserIn]

    Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis - [Fourth edition]

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    New York, NY, U.S.A.: Springer, [2018]