Zum Inhalt springen Duganapalli, Kishore [VerfasserIn] ; Anheier, Walter [AkademischeR BetreuerIn]; Anheier, Walter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fey, Görschwin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1106374495/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Bremen: Staats- und Universitätsbibliothek Bremen, 2016 Duganapalli, Kishore [VerfasserIn] ; Universität Bremen Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang und weitere Informationen zur Ressource Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Bremen, 2016 Duganapalli, Kishore; Palit, Ajoy K.; Anheier, Walter Genetic-Algorithm-based Test Pattern Generation for Crosstalk Faults between On-Chip Aggressor and Victim Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. World Scientific Pub Co Pte Lt, 2016 Erschienen in: Journal of Circuits, Systems and Computers Palit, Ajoy K.; Duganapalli, Kishore K.; Anheier, Walter Crosstalk fault modeling in defective pair of interconnects Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Elsevier BV, 2008 Erschienen in: Integration Palit, Ajoy K.; Duganapalli, Kishore K.; Anheier, Walter Lecture Notes in Computer Science: Modeling of Crosstalk Fault in Defective Interconnects Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Berlin Heidelberg, 2006 Erschienen in: Lecture Notes in Computer Science Vudathu, Shyam Praveen; Duganapalli, Kishore Kumar; Laur, Rainer; Kubalińska, Dorota; Bunse-Gerstner, Angelika Yield analysis via induction of process statistics into the design of MEMS and other microsystems Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2007 Erschienen in: Microsystem Technologies
Duganapalli, Kishore [VerfasserIn] ; Anheier, Walter [AkademischeR BetreuerIn]; Anheier, Walter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fey, Görschwin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://d-nb.info/1106374495/34 kostenfrei Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Bremen: Staats- und Universitätsbibliothek Bremen, 2016
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Duganapalli, Kishore [VerfasserIn] ; Universität Bremen Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang und weitere Informationen zur Ressource Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Bremen, 2016
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Duganapalli, Kishore; Palit, Ajoy K.; Anheier, Walter Genetic-Algorithm-based Test Pattern Generation for Crosstalk Faults between On-Chip Aggressor and Victim Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. World Scientific Pub Co Pte Lt, 2016 Erschienen in: Journal of Circuits, Systems and Computers
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Palit, Ajoy K.; Duganapalli, Kishore K.; Anheier, Walter Lecture Notes in Computer Science: Modeling of Crosstalk Fault in Defective Interconnects Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Berlin Heidelberg, 2006 Erschienen in: Lecture Notes in Computer Science
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Vudathu, Shyam Praveen; Duganapalli, Kishore Kumar; Laur, Rainer; Kubalińska, Dorota; Bunse-Gerstner, Angelika Yield analysis via induction of process statistics into the design of MEMS and other microsystems Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2007 Erschienen in: Microsystem Technologies
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (4) Wert ausschließen Bücher (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (2) Wert ausschließen Ohne Angabe (4) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Englisch (5) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (5) Wert ausschließen Mathematik (3) Wert ausschließen Physik (3) Wert ausschließen Informatik (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Anheier, Walter (4) Wert ausschließen Duganapalli, Kishore (3) Wert ausschließen Palit, Ajoy K. (3) Wert ausschließen Duganapalli, Kishore K. (2) Wert ausschließen Bunse-Gerstner, Angelika (1) Wert ausschließen Duganapalli, Kishore Kumar (1) Wert ausschließen Fey, Görschwin (1) Wert ausschließen Kubalińska, Dorota (1) Wert ausschließen Laur, Rainer (1) Wert ausschließen Universität Bremen (1) Wert ausschließen Vudathu, Shyam Praveen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Diss online (1) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (1) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (1) Wert ausschließen Springer Berlin Heidelberg (CrossRef) (1) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (1) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (1) Wert ausschließen World Scientific Pub Co Pte Lt (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen